comparano
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

Springer Berlin Heidelberg·EAN 9783540447016

Geriausia kaina iš 1 pasiūlymo

192,59 €

Į parduotuvę Springer Nature →

Palyginti 1 kainą

ParduotuvėKainaAction

Springer Nature

link.springer.com

Geriausia kaina

Yra sandėlyje

192,59 €Eiti → Į parduotuvę →

Kainos sekimas

Atsiųsime el. laišką, kai kaina nukris žemiau jūsų nurodytos ribos.

Paspausdami „Pranešti man“ sutinkate gauti vieną patvirtinimo laišką ir vieną pranešimą apie šios prekės kainą. Bet kada galite atsisakyti.

Kainų istorija — mažiausia kaina

192,59 €

Mažiausia dienos kaina visose parduotuvėse · šio laikotarpio vidurkis: 192,59 €

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects. A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.

Comparano lygina prekės Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures kainas 1 internetinėje parduotuvėje. Geriausia kaina šiandien — 192,59 €. Per pastarąsias 90 dienų mažiausia dienos kaina vidutiniškai siekė 192,59 €. Kainos atnaujinamos kelis kartus per dieną; galutinė kaina patvirtinama parduotuvėje.

Daugiau iš Springer Berlin Heidelberg