comparano
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

Springer Berlin Heidelberg·EAN 9783540447016

Labākā cena no 1 piedāvājuma

192,59 €

Uz veikalu Springer Nature →

Salīdzināt 1 cenu

VeikalsCenaAction

Springer Nature

link.springer.com

Labākā cena

Ir noliktavā

192,59 €Doties → Uz veikalu →

Cenu brīdinājums

Mēs nosūtīsim e-pastu, kad cena nokritīs zem jūsu norādītā līmeņa.

Nospiežot “Paziņot man”, jūs piekrītat saņemt vienu apstiprinājuma e-pastu un vienu paziņojumu par šī produkta cenu. Jebkurā brīdī varat atteikties.

Cenu vēsture — zemākā cena

192,59 €

Zemākā dienas cena visos veikalos · vidējā cena šajā periodā: 192,59 €

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects. A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.

Comparano salīdzina Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures cenas 1 interneta veikalā. Labākā cena šodien ir 192,59 €. Pēdējo 90 dienu laikā zemākā dienas cena vidēji bija 192,59 €. Cenas tiek atjauninātas vairākas reizes dienā; galīgā cena tiek apstiprināta veikalā.

Vairāk no Springer Berlin Heidelberg